
系統(tǒng)獨有的智能算法,配合Santec、JDSU可調(diào)光源或其它品牌(用戶可指定),可快速完成耦合、插損、回損、PDL及均勻性等相關指標的波長掃描測試??梢远喙の还蚕硪慌_可調(diào)光源及偏振控制器,1拖16(即一臺可調(diào)光源和偏振控制器共享16個耦合測試工位)或更多,需根據(jù)可調(diào)光源的功率決定。測試速度快、員工依賴性低、產(chǎn)品性能佳及產(chǎn)品可靠性高等,目前已成功應用于國內(nèi)數(shù)家主要的光器件生產(chǎn)廠家。 
適用于光纖、光纖陳列和光波導等單芯或多芯器件的對準耦合及測試,如光分路器條形芯片測試,AWG條形芯片的波長掃描測試等。 
3.1,多工位共享一臺可調(diào)光源和偏振控制器,完成巴條芯片的波長掃描和測試,有效的降低成本,可共享16 個耦合測試工位,或更多。測試參數(shù),插損、回損、PDL及均勻性等相關指標; 3.2,可調(diào)光源和偏振控制器,用戶可指定品牌,如santec、JDSU等; 3.3,速度快,在同類設備中精度更高,重復性更好,穩(wěn)定性極高; 3.4,操作簡單,所有工作步驟可在同一平臺上完成; 3.5,系統(tǒng)模塊化構造,易于保養(yǎng); 3.6,高精度傳感器,精確控制膠層; 3.7,觀察系統(tǒng)部件由顯微變焦鏡頭、CCD、監(jiān)視器等組合成的結構體,更易于 操作; 3.8,14軸電動滑塊,自動對平行、自動耦合及自動掃描測試; 3.9,多通道光功率計,高速采樣,最快>10k/s; 3.10,根據(jù)客戶需求,可定制設備不同解決方案。 系統(tǒng)架構(TSL-570和PCU-110): 



序號 | 關鍵參數(shù) | 參數(shù)標準 |
| | 1 | 光學平臺 | 立式、1200*1200*850mm |
| | 2 | 耦合重復性 | <0.08dB(正常<0.05dB) |
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| | 3 | 自動耦合掃描時間 | 單粒 <10s |
| | 4 | 耦合電動位移臺精度 | <0.5um |
| | 5 | 單臺可調(diào)光源共享工位 | 16個共位或更多,需根據(jù)可調(diào)光源的功主決定。 |
| | 6 | 光功率計 | 速度>10k/s,測量分辨率0.001dB |
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